北京華測試驗(yàn)儀器有限公司配合某檢測機(jī)構(gòu)搭建的絕緣材料實(shí)驗(yàn)室近日建成。實(shí)驗(yàn)室中有高溫電壓擊穿試驗(yàn)儀（可測200℃）、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕試驗(yàn)儀、全自動(dòng)CTI低壓漏電起痕試驗(yàn)儀、工頻高壓電路電橋、耐壓儀、分壓儀和高阻計(jì)等眾多華測的設(shè)備。

變溫電壓擊穿試驗(yàn)儀：HCDJC系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試；電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。

耐電弧試驗(yàn)儀：HCDH-4 耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)是為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

高壓漏電起痕試驗(yàn)儀：HCLD-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子PLC作為主控制系統(tǒng)，配合精度高的電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級(jí)升壓漏電起痕電壓法。

低壓漏電起痕試驗(yàn)儀：HCLD-2 耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是根據(jù)UL746A 、IEC60112 、IEC60335、 IEC884-1、GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH4CL) ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。 電痕化是指固體絕緣材料在電應(yīng)力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下，在表面（或內(nèi)部）產(chǎn)生導(dǎo)電通道。是評(píng)價(jià)電工電子產(chǎn)品中使用的固體絕緣材料公優(yōu)劣的重要指標(biāo)，被廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝、信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域。

高阻計(jì)：Huace-300 表面、體積電阻率測定儀（高阻計(jì)）既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×10⁴Ω ～1×10¹⁸Ω，準(zhǔn)確度較高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測量儀器。電流測量范圍為2×10^-4 ～1×10^-16Ａ。測試電壓為10/25/50/100/250/500/1000V可調(diào)。